美國(guó)一項(xiàng)新研究表明，妊娠早期(特別是懷孕頭3個(gè)月)發(fā)高燒，容易導(dǎo)致胎兒心臟和面部缺陷。

美國(guó)杜克大學(xué)研究員、新生兒學(xué)專家艾瑞克·J·本納博士及其研究團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)，孕婦在妊娠早期發(fā)高燒本身就是導(dǎo)致胎兒唇腭裂(又稱兔唇)的一個(gè)關(guān)鍵原因。

研究人員研制出一種非侵入性磁力技術(shù)，利用該技術(shù)可創(chuàng)建高燒模式。進(jìn)入模擬高燒模式后，胚胎就會(huì)出現(xiàn)顱骨面部畸形以及心臟缺陷等趨勢(shì)，缺陷類型取決于高燒發(fā)生在心臟、頭顱和面部發(fā)育的具體時(shí)間段。

自20世紀(jì)80年代初以來(lái)，科學(xué)家就已經(jīng)知道新生兒出生缺陷與母親孕期高燒存在關(guān)聯(lián)。新研究結(jié)果表明，應(yīng)該讓更多的育齡女性明白孕期高燒是新生兒缺陷的一大風(fēng)險(xiǎn)因素。孕期發(fā)高燒應(yīng)及時(shí)就醫(yī)，切勿咬牙硬扛。